Bestimmung der metallischen Elemente

Präzisionsbestimmung aller Elemente ab OZ19 über Lösungen. Direkte Festprobenanalyse bei geeigneten Kalibrationsproben bzw. nach Präparierung von Schmelzkörpern ab OZ11. Bestimmungsbereich: Neben- und Hauptbestandsteile. Halbquantitative Übersichtsanalyse für alle Elemente ab OZ11 in allen Matrices. Bestimmungsbereich 0,01 - 100%Abbildung: Funktionsschema der XRF

Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)

Präzisionsbestimmung aller Elemente ab OZ19 über Lösungen. Direkte Festprobenanalyse bei geeigneten Kalibrationsproben bzw. nach Präparierung von Schmelzkörpern ab OZ11. Bestimmungsbereich: Neben- und Hauptbestandsteile. Halbquantitative Übersichtsanalyse für alle Elemente ab OZ11 in allen Matrices. Bestimmungsbereich 0,01 - 100%




Abbildung: Funktionsschema der XRF

Bestimmung aller metallischen Elemente; zusätzlich B, P, S, Cl, Br und J über Lösungen. Alle Elemente simultan mit CCD-Detektor; horizontales Plasma >10000 Linien / 2,5 sec; Wellenlängenbereich 125-770 nm. Für weniger geeignete Halbmetalle Hydridzusatz. Bestimmungsbereich 0.0001% - Nebenbestandteile.Abbildung: Darstellung des horizontalen Plasmas

Optische Emissionsanalyse mit Plasmaanregung (ICP-OES)

Bestimmung aller metallischen Elemente; zusätzlich B, P, S, Cl, Br und J über Lösungen. Alle Elemente simultan mit CCD-Detektor; horizontales Plasma >10000 Linien / 2,5 sec; Wellenlängenbereich 125-770 nm. Für weniger geeignete Halbmetalle Hydridzusatz. Bestimmungsbereich 0.0001% - Nebenbestandteile.




Abbildung: Darstellung des horizontalen Plasmas

Flammen-AAS: Bestimmung der metallischen Elemente in Lösung. Weniger geeignet für W, Ta, Hf, Mo, Nb, Zr, Si, Al, Sn, Ba, Sr, SE-Metalle und Metalle der Platingruppe. Bestimmungsbereich 0.0001% bis Nebenbestandteile. ETA-AAS: Bestimmung der metallischen Elemente im Spurenbereich in Lösung. Ungeeignet für Carbidbildner, SE- und Platinmetalle. Bestimmungsbereich 0.000001 bis 0.01%.Abbildung: Funktionsprinzip des Atomabsorptionsspektrometers

Atomabsorptionspektrometrie

Flammen-AAS: Bestimmung der metallischen Elemente in Lösung. Weniger geeignet für W, Ta, Hf, Mo, Nb, Zr, Si, Al, Sn, Ba, Sr, SE-Metalle und Metalle der Platingruppe. Bestimmungsbereich 0.0001% bis Nebenbestandteile.

ETA-AAS: Bestimmung der metallischen Elemente im Spurenbereich in Lösung. Ungeeignet für Carbidbildner, SE- und Platinmetalle. Bestimmungsbereich 0.000001 bis 0.01%.

Abbildung: Funktionsprinzip des Atomabsorptionsspektrometers

Anmerkung: Für die oben genannten Bestimmungsmethoden sind die zu analysierenden Proben mit geeigneten Löse- oder Aufschlussmethoden in rückstandsfreie Lösungen zu überführen. Hierfür werden bei reinen Metallverbindungen Säuren (Salzsäure, Salpetersäure, Phosphorsäure, Flusssäure) und Säuremischungen geeigneter Konzentration eingesetzt. Für Legierungen mit schwerlöslichen Beimengungen und Verunreinigungen (Carbide und Oxide) und für refraktäre keramische Materialien (Al2O3, Si3N4, SiC, BN etc.) kommen Aufschlüsse in geschlossenen Systemen bei Temperaturen bis 250°C und mehrstündiger Dauer (Druckaufschlüsse), mikrowellenunterstützte Aufschlüsse bei Temperaturen bis 280°C und Schmelzaufschlüsse mit anschließendem Lösen des Schmelzkuchens, zum Einsatz.

 
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